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    XRD原理(xrd原理圖)

    發(fā)布時間:2023-04-13 15:56:46     稿源: 創(chuàng)意嶺    閱讀: 110        

    大家好!今天讓創(chuàng)意嶺的小編來大家介紹下關(guān)于XRD原理的問題,以下是小編對此問題的歸納整理,讓我們一起來看看吧。

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    本文目錄:

    XRD原理(xrd原理圖)

    一、xrd sem tem原理是

    XRD可以做定性,定量分析。即可以分析合金里面的相成分和含量,可以測定晶格參數(shù),可以測定結(jié)構(gòu)方向、含量,可以測定材料的內(nèi)應(yīng)力,材料晶體的大小等等。一般主要是用來分析合金里面的相成分和含量。

    樣品制備:

    通常定量分析的樣品細(xì)度應(yīng)在1微米左右,即應(yīng)過320目篩。

    SEM是利用電子和物質(zhì)的相互作用,可以獲取被測樣品本身的各種物理、化學(xué)性質(zhì)的信息,如形貌、組成、晶體結(jié)構(gòu)、電子結(jié)構(gòu)和內(nèi)部電場或磁場等等。主要是利用二次電子信號成像來觀察樣品的表面形態(tài),即用極狹窄的電子束去掃描樣品,通過電子束與樣品的相互作用產(chǎn)生各種效應(yīng),其中主要是樣品的二次電子發(fā)射。

    二、求大神幫解說一下什么是SEM XRD EDS 分析方法和原理 本人零基礎(chǔ) 大體了解一下

    SEM是掃描電子顯微鏡,最高可放大至20萬倍左右,用二次電子成像的原理來觀察某種物質(zhì)的微觀形貌。EDS是能譜儀,是每種元素對應(yīng)的電子能不同,來鑒別元素,通常是和SEM結(jié)合使用,也就是說在SEM上安裝EDS附件,在觀看形貌時,選擇一定區(qū)域用EDS打能譜,也就知道了該區(qū)域的元素組成。XRD是X射線衍射儀,其原理是高壓下,陰極發(fā)出的電子形成高能電子束,轟擊陽極靶材(通常是Cu),靶材的內(nèi)部電子能量升高,被激發(fā)出來,當(dāng)它回到基態(tài)的過程中,多余的能量以X射線、俄歇電子等形式釋放出來。XRD收集的是其中的X射線,X射線掃到樣品上,會根據(jù)布拉格方程產(chǎn)生衍射角,衍射峰。每種物質(zhì)(不同樣品)的衍射峰不同,因此通常用來鑒別物相,也會根據(jù)峰面積算半定量。

    三、xrd測元素原理

    XRD是X射線衍射,對由晶格組成的物質(zhì)進(jìn)行衍射,分析其衍射圖譜,獲得成分和結(jié)構(gòu)。不能測元素。

    四、XRD與EDS有什么區(qū)別?求大神

    SEM,EDS,XRD的區(qū)別,SEM是掃描電鏡,EDS是掃描電鏡上配搭的一個用于微區(qū)分析成分的配件——能譜儀,是用來對材料微區(qū)成分元素種類與含量分析,配合掃描電子顯微鏡與透射電子顯微鏡的使用。XRD是X射線衍射儀,是用于物相分析的檢測設(shè)備。

    SEM用于觀察標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu),其工作原理是用一束極細(xì)的電子束掃描樣品,在樣品表面激發(fā)出次級電子,次級電子的多少與電子束入射角有關(guān),也就是說與樣 品的表面結(jié)構(gòu)有關(guān),次級電子由探測體收集,并在那里被閃爍器轉(zhuǎn)變?yōu)楣庑盘枺俳?jīng)光電倍增管和放大器轉(zhuǎn)變?yōu)殡娦盘杹砜刂茻晒馄辽想娮邮膹?qiáng)度,顯示出與電子束同步的掃描圖像。圖像為立體形象,反映了標(biāo)本的表面結(jié)構(gòu)。

    EDS的原理是各種元素具有自己的X射線特征波長,特征波長的大小則取決于能級躍遷過程中釋放出的特征能量△E,能譜儀就是利用不同元素X射線光子特征能量不同這一特點(diǎn)來進(jìn)行成分分析的。

    XRD是利用衍射原理,精確測定物質(zhì)的晶體結(jié)構(gòu),織構(gòu)及應(yīng)力,精確的進(jìn)行物相分析,定性分析,定量分析。

    說簡單點(diǎn),SEM是用來看微觀形貌的,觀察表面的形態(tài)、斷口、微裂紋等等;EDS則是檢測元素及其分布,但是H元素不能檢測;XRD觀察的是組織結(jié)構(gòu),可以測各個相的比例、晶體結(jié)構(gòu)等。

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