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3、AM投稿多久送審
AM轉(zhuǎn)投到AFM(am建議轉(zhuǎn)投afm)
大家好!今天讓創(chuàng)意嶺的小編來大家介紹下關(guān)于AM轉(zhuǎn)投到AFM的問題,以下是小編對此問題的歸納整理,讓我們一起來看看吧。
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本文目錄:
一、國際上材料領(lǐng)域比較權(quán)威的雜志有哪些,AFM,AM全稱是什么
雜志有:
1、《Nature Reviews Materials》《自然評論材料》
2、《Nature Energy》《自然能量》
3、《NATURE MATERIALS》《自然材料》
4、《Nature Nanotechnology》《自然納米技術(shù)》
5、《ADVANCED MATERIALS》《先進材料》
6、《Advanced Energy Materials》《先進能源材料》
7、《Materials Today》《今日材料》
8、《PROGRESS IN MATERIALS SCIENCE》《材料科學(xué)進展》
9、《MATERIALS SCIENCE & ENGINEERING R-REPORTS》《材料科學(xué)與工程研究報告》
10、《INTERNATIONAL MATERIALS REVIEWS》《國際材料評論》
AFM:ADVANCED FUNCTIONAL MATERIALS;原子力顯微鏡
AM:Advanced Materials;先進材料
擴展資料
AFM優(yōu)點:
原子力顯微鏡的出現(xiàn)無疑為納米科技的發(fā)展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描,從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態(tài)信息。
與常規(guī)顯微鏡比較,原子力顯微鏡的優(yōu)點是在大氣條件下,以高倍率觀察樣品表面,可用于幾乎所有樣品(對表面光潔度有一定要求),而不需要進行其他制樣處理,就可以得到樣品表面的三維形貌圖象。并可對掃描所得的三維形貌圖象進行粗糙度計算、厚度、步寬、方框圖或顆粒度分析。具體如下:
1、高分辨力能力遠遠超過掃描電子顯微鏡(SEM),以及光學(xué)粗糙度儀。樣品表面的三維數(shù)據(jù)滿足了研究、生產(chǎn)、質(zhì)量檢驗越來越微觀化的要求。
2、非破壞性,探針與樣品表面相互作用力為10-8N以下,遠比以往觸針式粗糙度儀壓力小,因此不會損傷樣品,也不存在掃描電子顯微鏡的電子束損傷問題。另外掃描電子顯微鏡要求對不導(dǎo)電的樣品進行鍍膜處理,而原子力顯微鏡則不需要。
3、應(yīng)用范圍廣,可用于表面觀察、尺寸測定、表面粗糙測定、顆粒度解析、突起與凹坑的統(tǒng)計處理、成膜條件評價、保護層的尺寸臺階測定、層間絕緣膜的平整度評價、VCD涂層評價、定向薄膜的摩擦處理過程的評價、缺陷分析等。
4、軟件處理功能強,其三維圖象顯示其大小、視角、顯示色、光澤可以自由設(shè)定。并可選用網(wǎng)絡(luò)、等高線、線條顯示。圖象處理的宏管理,斷面的形狀與粗糙度解析,形貌解析等多種功能。
參考資料:百度百科-AFM(原子力顯微鏡)
二、AM重投是原來的審稿人嗎
是。
1、如果你在規(guī)定時間AM重投了,那么重投后的文章還是之前的審稿人審稿。
2、過了期限之后你在投稿,就屬于AM重新投稿了,編輯會重新給你找審稿人。
三、AM投稿多久送審
“Under consideration”應(yīng)該還在編輯手上,下一個狀態(tài)就是尋找合適的審稿人,這個過程可能3天就完成,也可能長達一個月,看審稿人容不容易找了。
首先要起一個能打動編輯與讀者的好的書名,還要有內(nèi)容簡介、作者簡介、目錄、樣張、市場調(diào)研觀點,如果能請到有名氣的作者給寫個書評,出書的把握就更大了。
從發(fā)現(xiàn)電子公告牌功能分離出博客,電子商務(wù),維基百科,威客,搜索引擎開始,到2007年我們逐漸意識到互聯(lián)網(wǎng)正在向與人腦結(jié)構(gòu)高度相似的方向發(fā)展。
一稿多投:
一稿多投,是指作者將自己享有著作權(quán)的某一未發(fā)表作品同時或在特定時限內(nèi)投寄給多家報刊雜志社或出版社等并希望被采用的行為,但國內(nèi)各大雜志社與各個媒體都不支持一稿多投,是作者將自己享有著作權(quán)的某一未發(fā)表作品投寄給報刊雜志社、廣播電視臺或出版社并希望被采用的行為。
從作者與媒體出版部門之間就因投稿形成了合同法律關(guān)系,投稿無疑是形成這一關(guān)系的前置環(huán)節(jié);從合同法角度看,投稿這一民事行為應(yīng)屬于“要約邀請”而非“要約”。 最終的法律關(guān)糸形成,還需滿足有投稿→愿接受→尊守事先公約。
四、國際上材料領(lǐng)域比較權(quán)威的雜志有哪些,AFM,AM全稱是什么?
學(xué)光雜志,AFM全稱Atomic Force Microscope,AM全稱為:Advanced Materials。
AFM即原子力顯微鏡,它是繼掃描隧道顯微鏡(Scanning Tunneling Microscope)之后發(fā)明的一種具有原子級高分辨的新型儀器,可以在大氣和液體環(huán)境下對各種材料和樣品進行納米區(qū)域的物理性質(zhì)包括形貌進行探測,或者直接進行納米操縱。
現(xiàn)已廣泛應(yīng)用于半導(dǎo)體、納米功能材料、生物、化工、食品、醫(yī)藥研究和科研院所各種納米相關(guān)學(xué)科的研究實驗等領(lǐng)域中。
Advanced Materials是工程與計算大學(xué)科、材料與化學(xué)大領(lǐng)域(包含材料化學(xué),材料物理,生物材料,納米材料,光電材料,金屬材料,無機非金屬材料,電子材料等等非常多的子學(xué)科,以及非常大量與材料相關(guān)的研究領(lǐng)域)的頂尖期刊,在國際材料領(lǐng)域科研界上享譽盛名。
其他:
AFM優(yōu)點:
原子力顯微鏡的出現(xiàn)無疑為納米科技的發(fā)展起到了推動作用。以原子力顯微鏡為代表的掃描探針顯微鏡是利用一種小探針在樣品表面上掃描,從而提供高放大倍率觀察的一系列顯微鏡的總稱。原子力顯微鏡掃描能提供各種類型樣品的表面狀態(tài)信息。
AFM原理:
當原子間距離減小到一定程度以后,原子間的作用力將迅速上升。因此,由顯微探針受力的大小就可以直接換算出樣品表面的高度,從而獲得樣品表面形貌的信息。
以上內(nèi)容參考:Advanced Materials-百度百科
以上就是關(guān)于AM轉(zhuǎn)投到AFM相關(guān)問題的回答。希望能幫到你,如有更多相關(guān)問題,您也可以聯(lián)系我們的客服進行咨詢,客服也會為您講解更多精彩的知識和內(nèi)容。
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